1. Skip to Menu
  2. Skip to Content
  3. Skip to Footer>

ГЛАВНАЯ   НОВОСТИ   КОНТАКТЫ   ВАКАНСИИ   ИНТЕРНЕТ-МАГАЗИН  СТАРТ                                                                                   

Установка электротестирования HIOKI 1240Высокий уровень определения дефектов

Определение плохих контактов выводов микросхем. 1240 производит высокоточные измерения контактного сопротивления между выводами микросхем и контактной площадкой с использованием 4-х контактного метода замера сопротивления и сравнения с данными в базе по хорошему контакту. Использование электрического метода определения обеспечивает высокую повторяемость.

 

Работа с компонентами с мелким шагом 0,5 мм и шириной линии 0,3 мм

Проберы для четырехконтактных измерений, не подверженные влиянию контактного сопротивления и сопротивлению цепи (проводника), используются для проверки выводов микросхем. Эти проберы также могут использоваться для тестирования компонентов.

 

AOI функция простой оптической инспекции

CCD камера, которая является стандартным элементом установки 1240 для распознания и позиционирования платы, используется так же для оптической инспекции компонентов, которые не могут быть протестированы с помощью электрического теста. Эта возможность существенно снижает необходимость проведения визуальной инспекции.

 

Режим оптической инспекции обеспечивает определение наличия или отсутствия компонента, определение сдвига и полярности. Опция «камера» для определения позиционирования компонентов может быть до установлена для обеспечения возможности тестирования кроме чипов еще и ИС.

 

Активный тест

Дополнительная опция «активный тест» позволяет измерять и тестировать такие компоненты, как полевые транзисторы MOS-FET, J-FET, измерения сопротивления реле, 3-х терминальные измерения простых функций, и другие.

 

Оценка базы компонента на основе их операционного состояния

Работа FET оценивается с помощью замера тока и напряжения между входом и источником при включенном и отключенном напряжении, использ. затвором MOS-FET и J-FET (поддерживается для обоих Nch и Pch).

 

Измерение контактного сопротивления реле

Вторичная сторона значения сопротивления измеряется подачей напряжения на реле с передней стороны. Этот функционал позволяет проверять значение сопротивления, когда пользователь определяет напряжение (5В, 12В, 24В). Определяется так же, как и при разомкнутом, когда подано 0В.

 

Измерение генерируемого напряжения

Генерируемое напряжение на выходной части схемы тестируется замером, когда оператор выставил напряжение (макс 25В / 100мА), подаваемое на входе цепи. Эту функцию можно так же использовать для простого функционального теста.

 

Функция поддержки периферийного сканирования «ПС» (Boundary scan «BS»)

Функция периферийного сканирования «ПС» («BS») - метод для тестирования электронных модулей на смонтированных печатных платах на базе IEEE1149.1 стандарта, при котором переключатели внутри интегральной схемы «ИС» запрашиваются периферийным сканированием ячейки, используемые для тестирования статуса каждого установленного компонента.

 

Тест на периферийное сканирование использует периферийное сканирование ячеек, которые предустановлены в цифровой интегральной схеме «ИС» I/O pins. Эти ячейки включают в себя цифровые переключатели и функционируют аналогично тестовому пробнику.

 

Возможности тестирования периферийным сканированием

Большинство цифровых микросхем «ИС» на смонтированной печатной плате могут тестироваться с использованием небольшого количества тестовых пробников (минимум требуется около 8 пробников).

 

Функциональные возможности измерения напряжения (опция)

Тест проводится после подключения HiTESTER к внешним инструментариям с аналоговым выходом. В режиме CONV измеряется потенциалом напряжения между H и L и переводится с использованием управления преобразования, установленным для данной величины напряжения (оператор устанавливает значение «а» и «б» для линейной функции). Затем производится оценка на основе приведенных значениях.

 

Простота, удовольствие в работе

Создание данных и рабочее окно тестирования.За последние годы возможности контроля и снижения затрат при запуске нового изделия стали одними из самых важных параметров и свойств системы. Проблемы связанные с высокой стоимостью оснастки адаптерных тестовых систем и пространства для их хранения, а так же возможность сразу же произвести тестирование прототипов новых изделий.

Установка 1240 X-Y IN-CIRCUIT HiTESTER с подвижными пробниками удовлетворяет всем требованиям.

 

Посмотреть видео по данной установке Вы можете здесь

 

Чтобы получить более подробную информацию,узнать цену и сделать заказ Вы можете обратиться к нашим специалистам, которые Вам всегда с удовольствием ответят.